跟踪式三维扫描

无需贴点智能追踪
智能光学跟踪测量技术，无需贴点即刻扫描
极速高效无惧细节
1,900,000次/秒扫描速率，动态追踪
超强适应力
环境感知度轻松扫描光亮、黑色物体，不易受震动、温度等外界因素影响无线光笔
测量不局限
便携式CMM测量光笔T-Probe，单点重复性0.030 mm